高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域
高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是用于粒子表征和分散性評價的儀器。它可以用于測量和分析納米粒子的粒度分布、濁度、流變性質(zhì)以及粒子間的相互作用。儀器通過激光散射技術(shù)來測量粒子的粒度分布。激光束照射在樣品中的納米顆粒上,被散射光通過光學(xué)系統(tǒng)傳導(dǎo)到探測器上。根據(jù)光散射的強(qiáng)度和角度分布,可以計算出顆粒的粒徑大小。激光散射方法有兩種,一種是動態(tài)光散射(DLS)方法,另一種是靜態(tài)光散射(SLS)方法。DLS方法適用于測量較小的納米顆粒,而SLS方法適用于較大尺寸的粒子。接下來,讓我們來...全自動注射劑可見異物分析儀的維護(hù)保養(yǎng)方法
全自動注射劑可見異物分析儀通過光學(xué)成像、圖像處理和物質(zhì)識別等幾個步驟對藥物注射液中的異物進(jìn)行檢測。通過對原始圖像進(jìn)行處理和識別,可以有效地提高異物檢測的準(zhǔn)確性和可靠性,從而為保障注射劑的質(zhì)量和安全性提供重要的技術(shù)支持。全自動注射劑可見異物分析儀的操作使用步驟:1.測試儀放置在干燥、潔凈的工作臺上,并確保設(shè)備連接好電源。2.打開儀器的電源開關(guān),待儀器啟動后,進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)。3.準(zhǔn)備待測試的全自動注射劑樣品,按照儀器說明書中的要求,將樣品引進(jìn)儀器。4.設(shè)置測試參數(shù),如測試時間、測試...胤煌科技YinHuang Technology 誠邀您參加2023中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會
胤煌科技YinHuangTechnology誠邀您參加2023中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會2023年中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會將于2023年8月29日-8月31日召開,胤煌科技YinHuangTechnology作為受邀展商將亮相展會,歡迎各位朋友來我們展位蒞臨指導(dǎo)。展會相關(guān)信息如下:展會時間:2023年8月29日-31日地點(diǎn):深圳國際會展中心(新館)展位號:7G105胤煌科技(YinHuangTechnology)是一家專注于為醫(yī)藥、半導(dǎo)體及化工材料等行業(yè)提供檢測分析設(shè)備...超聲電聲法及Zeta電位分析儀的維護(hù)保養(yǎng)方法
超聲電聲法及Zeta電位分析儀是利用超聲波與帶電粒子相互作用的技術(shù),通過測量超聲波傳播速度的變化,來推測材料表面的電勢差和電荷分布。超聲波作為一種機(jī)械波,能夠與物質(zhì)的性質(zhì)產(chǎn)生相互作用,而帶電粒子會影響超聲波的傳播速度。通過測量超聲波的傳播速度變化,可以得到材料表面的電荷分布情況,進(jìn)而推測出電勢差。常用的測量材料表面電荷的儀器,它通過測量材料中懸浮粒子的遠(yuǎn)離速度,來確定材料表面的電勢差。采用了電泳法,即將帶有電荷的粒子懸浮在溶液中,然后應(yīng)用電場,使粒子發(fā)生遷移,測量粒子的遷移速...圖像法顯微計數(shù)法的相關(guān)知識點(diǎn)介紹
圖像法顯微計數(shù)法是一種常用的方法,用于測定液體中的微粒數(shù)量和粒徑分布。該方法通過顯微鏡觀察樣品圖像并進(jìn)行圖像分析,可以非常準(zhǔn)確地計算微粒的數(shù)量和大小。需要制備樣品溶液并將其放置在顯微鏡下。然后,使用高倍顯微鏡對樣品進(jìn)行觀察和拍照。拍攝的圖像可以通過計算機(jī)軟件進(jìn)行處理,進(jìn)行圖像分析和處理。圖像處理軟件可以提取圖像中微粒的信息,通過統(tǒng)計微粒的數(shù)量和計算微粒的大小。具體的處理方法包括:邊緣檢測、二值化、過濾、分辨率調(diào)整等。處理后,可以得到每個微粒的位置和尺寸數(shù)據(jù),進(jìn)而可以得到微粒的...電話
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